Продавайте книги с нами!
Каталог товаров

Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике

340 р.

Товар в корзине

Авторы: Стриха В. И. (1) Бузанева Е. В. (1)

Издательство: Радио и Связь

Место издания: Москва

Тип переплёта: твёрдый

Год издания: 1987

Формат: Обычный

Состояние: Очень хорошее. Тираж 4 300.

Количество страниц: 256 с., ил.

На остатке: 1


340 р.

Товар в корзине

Аннотация

Рассмотрена связь эксплуатационных характеристик приборов с барьером Шотки с физическими параметрами контактов металл - полупроводник используемых в различных областях: интегральная и СВЧ электроника, оптоэлектроника, гелиоэнергетика и др. Приведена система информативных электрических и физических параметров однородного и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе их работы. Описаны физико-химические процессы в однородных и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе (взаимная диффузия твердофазные реакции, твердофазная эпитаксия полупроводника и др.). Приведена оценка времени работы контактов до отказа. Систематизированы результаты экспериментальных исследовании надежности контактов на полупроводниках типов Aiv, AmBv, AvnBvi и др. Изложены методы повышения надежности контактов в интегральной технике работников,> специализирующихся в области микроэлектроники и полупроводниковых приборов.


(523 продаж с 2019 г.)

Телефон

Схема проезда

Россия, Тверь, пр-т Чайковского, д. 26, этаж 1, магазин "Букинист"

Все книги продавца (3740)

Задать вопрос продавцу

Оплата: Только предоплата

Способы оплаты:

  • Western Union;
  • Банковский перевод;
  • Наличными из рук в руки при встрече в г.Тверь;
  • Оплата на карту СБЕРБАНКА;
  • Перевод на банковскую карту;
  • Яндекс.Деньги;

Доставка: По России и за границу

Способы доставки:

  • почта России;
  • самовывоз : Предварительная договоренность обязательна! г.Тверь, пр-т Чайковского, д. 26, этаж 1. Магазин "Букинист";
  • транспортная компания: СДЕК (есть договор);

Стоимость доставки:

  • По тарифам Почты России + упаковка

Отправка заказов:

  • каждую неделю – пятницу, вторник.

Почтовый идентификатор:

  • высылается всегда

Дополнительные сканы и фото:

  • Высылаются для любых книг
  • До заказа

Торг по цене:

  • не возможен

Хранение неоплаченных заказов:

  • 5 (дней)

Аннотация

Рассмотрена связь эксплуатационных характеристик приборов с барьером Шотки с физическими параметрами контактов металл - полупроводник используемых в различных областях: интегральная и СВЧ электроника, оптоэлектроника, гелиоэнергетика и др. Приведена система информативных электрических и физических параметров однородного и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе их работы. Описаны физико-химические процессы в однородных и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе (взаимная диффузия твердофазные реакции, твердофазная эпитаксия полупроводника и др.). Приведена оценка времени работы контактов до отказа. Систематизированы результаты экспериментальных исследовании надежности контактов на полупроводниках типов Aiv, AmBv, AvnBvi и др. Изложены методы повышения надежности контактов в интегральной технике работников,> специализирующихся в области микроэлектроники и полупроводниковых приборов.


Товаров в продаже: 138 531

Продавайте книги с нами!