Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике
340 р.
Авторы:
Стриха В. И.
(1)
Бузанева Е. В.
(1)
Издательство: Радио и Связь
Место издания: Москва
Тип переплёта: твёрдый
Год издания: 1987
Формат: Обычный
Состояние: Очень хорошее. Тираж 4 300.
Количество страниц: 256 с., ил.
На остатке: 1
340 р.
Аннотация
Рассмотрена связь эксплуатационных характеристик приборов с барьером Шотки с физическими параметрами контактов металл - полупроводник используемых в различных областях: интегральная и СВЧ электроника, оптоэлектроника, гелиоэнергетика и др. Приведена система информативных электрических и физических параметров однородного и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе их работы. Описаны физико-химические процессы в однородных и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе (взаимная диффузия твердофазные реакции, твердофазная эпитаксия полупроводника и др.). Приведена оценка времени работы контактов до отказа. Систематизированы результаты экспериментальных исследовании надежности контактов на полупроводниках типов Aiv, AmBv, AvnBvi и др. Изложены методы повышения надежности контактов в интегральной технике работников,> специализирующихся в области микроэлектроники и полупроводниковых приборов.
(583 продаж с 2019 г.)
Все книги продавца
(3175)
Оплата: Только предоплата
Способы оплаты:
- Western Union;
- Банковский перевод;
- Наличными из рук в руки при встрече в г.Тверь;
- Оплата на карту СБЕРБАНКА;
- Перевод на банковскую карту;
- Яндекс.Деньги;
Доставка: По России и за границу
Способы доставки:
- почта России;
- самовывоз : Предварительная договоренность обязательна! г.Тверь, пр-т Чайковского, д. 26, этаж 1. Магазин "Букинист";
- транспортная компания: СДЕК (есть договор);
Стоимость доставки:
- По тарифам Почты России + упаковка
Отправка заказов:
- каждую неделю – пятницу, вторник.
Почтовый идентификатор:
- высылается всегда
Дополнительные сканы и фото:
- Высылаются для любых книг
- До заказа
Торг по цене:
- не возможен
Хранение неоплаченных заказов:
- 5 (дней)
Аннотация
Рассмотрена связь эксплуатационных характеристик приборов с барьером Шотки с физическими параметрами контактов металл - полупроводник используемых в различных областях: интегральная и СВЧ электроника, оптоэлектроника, гелиоэнергетика и др. Приведена система информативных электрических и физических параметров однородного и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе их работы. Описаны физико-химические процессы в однородных и неоднородных контактах при старении, деградации, отказе (взаимная диффузия твердофазные реакции, твердофазная эпитаксия полупроводника и др.). Приведена оценка времени работы контактов до отказа. Систематизированы результаты экспериментальных исследовании надежности контактов на полупроводниках типов Aiv, AmBv, AvnBvi и др. Изложены методы повышения надежности контактов в интегральной технике работников,> специализирующихся в области микроэлектроники и полупроводниковых приборов.
Аналогичные книги смотрите в разделах:
